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| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業(yè),電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半導體專溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型
循環(huán)風控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數據中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
快速溫變控溫卡盤MD -75℃廢氣冷凝回收裝置
快速溫變控溫卡盤MD -75℃廢氣冷凝回收裝置
射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率??？焖伲?50℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現閉環(huán)反饋，實時調整?體溫度升降溫時間可控，程序化操作、?動操作、遠程控制
半導體芯片高低溫測試機是用于模擬不同溫度環(huán)境下的半導體芯片性能測試，在使用半導體芯片高低溫測試機時，有一些注意事項需要遵守，以確保測試結果的準確性和設備的安全使用。
電源管理芯片溫度測試系統是用于測試半導體芯片在不同溫度環(huán)境下的性能和可靠性的重要設備，在選購這類測試設備時，需要考慮以下幾個要點：
1、溫度范圍：根據測試需求，確定所需測試的溫度范圍。電源管理芯片溫度測試系統應能夠在一定范圍內提供穩(wěn)定的溫度控制，以確保測試結果的準確性和可重復性。
2、測試樣品尺寸：考慮將要測試的半導體芯片的尺寸和形狀，確保測試樣品能夠正確地安裝到測試機中，并且不會受到機械應力或過熱的影響。
3、溫度穩(wěn)定性：電源管理芯片溫度測試系統的溫度穩(wěn)定性對其測試結果有很大影響。應選擇能夠在所需溫度范圍內保持穩(wěn)定溫度的測試機，以保證測試結果的可靠性。
4、加熱和冷卻速度：加熱和冷卻速度會影響測試效率，特別是對于需要快速溫度變化的測試。選擇具有快速加熱和冷卻能力的測試機可以縮短測試時間，提升工作效率。
5、溫度均勻性：測試機內部各個位置的溫度應盡可能均勻，以確保所有測試樣品在相同的溫度條件下進行測試。這將有助于獲得準確的測試結果，并避免因溫度不均而導致測試結果的可重復性差。
